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专利名称：光学信息记录再现装置及记录光强度学习方法专利类型：发明专利发明人：井村正春,田坂修一申请号：CN2004800178.9申请日：20040621公开号：CN18132A公开日：20060802
摘要：提供一种进行能够决定记录功率不会过大而降低了波形畸变的最佳记录条件的记录功率学习的光学信息记录再现装置。记录功率改变电路(12)将从记录功率产生电路(5)输出的功率学习用记录图案的前端部及后端部处的记录功率Po与中间部处的记录功率Pm的比率为一定，改变设定记录功率Po、Pm，来记录记录功率学习用数据。在记录功率学习用数据的再现时，容许功率范围决定电路(11)将由功率计算电路(8)根据从再现信号中检测到的调制度与容许上限调制度计算出的记录功率作为上限值、将由容许波形畸变功率计算电路(10)根据从再现信号中检测到的波形畸变量与容许波形畸变量计算出的记录功率作为下限值，来决定记录功率的容许范围。
申请人：松下电器产业株式会社
地址：日本大阪府
国籍：JP
代理机构：永新专利商标代理有限公司
代理人：黄剑锋
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